智能互感器測試儀的低頻法測試原理。

  1、低頻法測試原理

  IEC60044-6標(biāo)準(zhǔn)（對(duì)應(yīng)國家標(biāo)準(zhǔn)GB16847-1977）聲稱，CT的測試可以在比額定頻率低的情況下進(jìn)行，避免繞組和二次端子承受不能容許的電壓。

  智能互感器測試儀CT伏安特性測量的原理電路如下圖：CT一次側(cè)開路，從二次側(cè)施加電壓，測量所加電壓V與輸入電流I的關(guān)系曲線。此曲線近似CT的勵(lì)磁電勢E與勵(lì)磁電流I的關(guān)系曲線。
  設(shè)CT勵(lì)磁繞組在某一勵(lì)磁電流I時(shí)的激磁電感為L，激磁阻抗為Z，則：

  V = I·Z

  智能互感器測試儀電感L與阻抗Z之間具有下述關(guān)系：

  Z = ω·L = 2 π f L

  則：V= I·2 π f L

  由智能互感器測試儀公式中可見在某一激磁電感L時(shí)所加電壓V與頻率f成正比關(guān)系。

  假設(shè)當(dāng)f = 50Hz時(shí)，為達(dá)到勵(lì)磁電流Ix，所需施加的電壓Vx為2000V

  Vx = Ix·2 π f L = 2000V，

  若施加不同頻率： f = 50Hz，Vx ＝ 2000V

  f = 5Hz， Vx ≌ 200V

  f = 0.5Hz，Vx ≌ 20V

  由此可見智能互感器測試儀需要使CT進(jìn)入相同飽和程度，施加較低頻率信號(hào)所需電壓可以大幅度降低這就是變頻法的基本原理。

  在此智能互感器測試儀必須嚴(yán)格注意，所需電壓并非與頻率呈線性比例關(guān)系，并非隨著頻率等比例降低，需要嚴(yán)格按照互感器的精確數(shù)學(xué)模型進(jìn)行完整的理論計(jì)算。